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    x射線鍍層測厚儀鍍層測厚方法
    發布時間:2020-01-07   點擊次數:450次
       x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線,然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性,測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度,這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質的強度增加,厚度值也增加,但不是直線關系;通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經驗系數法)得到一個接近實際對應關系的曲線。

      x射線鍍層測厚儀鍍層測厚方法:
      1.磁性涂層測厚法
      使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
      2.X射線熒光法
      所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
      3.渦流層層測厚法
      可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度。
     
      x射線鍍層測厚儀主要性能特點:
      良好的射線屏蔽作用;
      高分辨率探頭使分析結果更加;
      采用高度定位激光,可自動定位測試高度;
      定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊;
      鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點;
      φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求;
      滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求;
      高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm;
      測試口高度敏感性傳感器保護。

    x射線鍍層測厚儀

    深圳市精誠儀器儀表有限公司

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