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    X-RAY電鍍膜厚儀原理
    發布時間:2020-07-22   點擊次數:1339次

    X-RAY電鍍膜厚儀原理

     

    X射線照射樣品,經過鍍層界面,射線返回的信號發生突變

    根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。

    理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。

    XRF-2020鍍層測厚儀:


    別稱:X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、X-RAY膜厚儀、膜厚測試儀

    金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。

     

    功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。


    應用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。

     

    特點:

     

    XRF-2020全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

     

    功能及應用:

     

    檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚

    可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。

    單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

    雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

    多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層:

    鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

     

    儀器測量精度:

    表層:±5%以內,第二層:±10%以內,第三層:±15%以內

     

    XRF-2020鍍層測厚儀規格型號如下圖

     

    鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出zhi來的第二次X射線的強度來。

    測量鍍層等dao金屬薄膜的厚度

    因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。

    同時,測量也可以在10秒到幾分鐘內完成

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