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    X-射線膜厚儀使用時注意這些方面
    發布時間:2021-03-10   點擊次數:340次
      膜厚儀做為一種測量物體厚度的儀器,在很多的行業領域都得到了廣泛的應用,尤其是涂層測厚儀,擁有測量精度高,利用探頭接觸測量方式的優點。
     
      臺式的熒光X射線膜厚儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。
     
      X-射線膜厚儀的使用注意事項:
     
      1.零點校準
     
      在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準,因為之前的測量參數會影響該次對物體的測量,零點校準可以消除前次測量有參數的影響,能夠降低測量的結果的誤差,使測量結果更加準確。
     
      2.基體厚度不宜過薄
     
      在使用膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄,否則會大程度的影響儀器的測量精度,造成數據結果不準確,影響測量過程的正常進行。
     
      3.物體表面粗糙程度
     
      對于被測物體的表面不宜太過粗糙,因為粗糙的表面容易引起探頭接觸不到,降低了涂層測厚儀的測量精度,造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑,以保證測量結果的準確性。
     
      X-射線膜厚儀不測量這樣辦:
     
      檢查探頭是否連接良好,插到位 查看探頭插頭插針情況。
     
      檢查探頭線是否有斷的地方重點檢查探頭接插件處(接頭處可以旋鈕擰開查看)。
     
      探頭頻繁大量使用,傳感器老化或損壞等。
     
      其它主機線路元件故障咨詢公司售后服務或返廠檢修。
     

    X-射線膜厚儀

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