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    鍍鎳測厚儀儀器測試誤差出現的原因
    發布時間:2022-05-11   點擊次數:178次
      鍍鎳測厚儀儀器特點有以下這些:
      功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法。
      覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
      X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。
      鍍鎳測厚儀測試誤差出現的原因:
      零件放置方向不正確:對于平直零件,旋轉角度不是問題,因為XRF鍍層測厚儀信號不受影響。但是,對于彎曲零件,非常重要的是,將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致。這使零件對齊更容易且數據再現性更好,這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部,而不是側壁上。與前述聚焦的情況類似,錯位測量也會改變X射線管-樣品-探測器間的距離。在不好的情況下,零件未對齊可能會使所有XRF鍍層測厚儀信號無法到達探測器。
      測量結果超出校準范圍:鍍層厚度或成分與強度之間的關系在小范圍內是線性關系,但在較大范圍內可能是曲線關系。因此,校準曲線被優化,在有限的厚度和成分范圍內工作,而不是覆蓋整個分析范圍。該優化范圍由回歸設置及創建校準曲線時使用的標樣決定。用戶可與XRF鍍層測厚儀制造商合作,了解校準曲線范圍,如果測量結果超出該范圍,則在用戶的軟件中設置警告。
     

    鍍鎳測厚儀

     

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