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    微先鋒X-RAY膜厚儀XRF-2020

    更新時間:2019-12-25

    簡要描述:

    微先鋒X-RAY膜厚儀XRF-2020
    可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度;
    可通過CCD來觀察及選擇任意的微小面積以進行鍍層厚度的測量
    避免直接接觸或破壞被測物
    測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度

    微先鋒X-RAY膜厚儀XRF-2020

     

    特征:

    可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度;

    可通過CCD來觀察及選擇任意的微小面積以進行鍍層厚度的測量

    避免直接接觸或破壞被測物

    全自動臺面及自動對焦更能準確測量產品位置

    適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。

    可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鋅鎳合金等鍍層。

    可測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度

    應用廣泛,適應電鍍生產企業,產品來料檢測等。

     

    MicropXRF-2020鍍層測厚儀

    產地:韓國

    品牌:Micropioneer微先鋒

    型號:XRF-2020H,XRF-2020L

     

    XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

    XRF-2020H型 測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

     

     

    微先鋒X-RAY膜厚儀XRF-2020

    測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度

    選擇任意的微小面積以進行鍍層厚度的無損測試

    避免直接接觸或破壞被測物

    三臺機型均為全自動臺面,自動雷射對焦

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