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    測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

    更新時間:2020-07-07

    簡要描述:

    韓國微先鋒Micropioneer
    XRF-2000測厚儀標準片
    可應用各種X射線測厚儀品牌
    用于校正測厚儀標準及添加應用程序
    測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

    測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

     

    標準片可應用各種X射線測厚儀品牌

    用于校正測厚儀標準及添加應用程序

     

    韓國XRF-2020測厚儀標準片

    銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

    各種厚度范圍均可訂制,附帶標準證書

     

    鍍層測厚儀標準片

    X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

    是膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品

    根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。

    以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。

    對于PCB、電子元器件,端子連接器,五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

    鍍層測厚儀標準片實物如圖所示:

     

    測厚儀標準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

     

    XRF-2000測厚儀標準片

    銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀,鉑,銠各種厚度及規格均可訂制,校準片均附帶證書

     

     

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