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    X-射線熒光鍍層測厚儀XRF-2020L

    更新時間:2022-03-29

    簡要描述:

    X-射線熒光鍍層測厚儀XRF-2020L
    型號:XRF-2020
    功能:
    檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度
    測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅等
    可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限基材。
    產地:韓國

    X-射線熒光鍍層測厚儀XRF-2020L


    型號:XRF-2020

    功能:


    檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

    測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅等

    可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限基材。


    X射線金鍍層測厚儀,X-RAY膜厚測試儀



    韓國先鋒XRF-2020L膜厚測試儀


    型號:XRF-2020


    功能:

    檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

    測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅等

    可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限基材。


    XRF-2020儀器操作流程

    1. 儀器及附件均處開機狀態(電腦,顯示器)

    2. 在程序庫中選中與產品對應的曲線(產品需與曲線一致)

    3.  打開儀器前蓋,臺面自動伸出

    4.  將樣品放入儀器臺面,測量大致位置對準儀器紅外對焦點

    5.  關閉儀器前蓋,儀器臺面自動歸位

    6.  在顯示器屏幕中用鼠標控制儀器臺面微調,精確對準測試位置

    7.  點擊SART測試:

    8.  測試過程中X-RAY指示燈亮紅,此時嚴禁打開儀器前蓋。

    9.  測試時間15秒主窗口及數據表中顯示測試產品厚度

    10. X-RAY指示燈熄滅,打開儀器前蓋,臺面自動伸出

    11. 取出樣品,完成測試



    X射線金鍍層測厚儀,X-RAY膜厚測試儀

    功能及原理:

    X射線或粒子射線經物質照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態

    從不穩定狀態要回到穩定狀態

    此物質必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。

    熒光X射線鍍層厚度測量儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度

    來進行鍍層厚度的測量及分析.


    X-射線熒光鍍層測厚儀XRF-2020L


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